摘要：本發(fā)明提出了一種基于遞推法的高光物體表面相位快速恢復(fù)方法。不同于以往把N張光柵圖片中有效灰度值和無效灰度值直接代入相位求解公式，該方法直接使用像素點(diǎn)處有效灰度值，通過遞推法還原飽和灰度值的實(shí)際值，進(jìn)而恢復(fù)高光物體表面高精度的相位值。該方法步驟簡單、魯棒性強(qiáng)，隨機(jī)誤差抑制性好，不需要調(diào)整CCD相機(jī)光圈、曝光時間，不需要對高光物體表面進(jìn)行處理，省時快捷，能夠保證高光物體表面的測量精度，測量準(zhǔn)確性高。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人西北工業(yè)大學(xué);
- 發(fā)明人聶寇準(zhǔn);常智勇;盧津;江奔;孫博洋;
- 地址710072 陜西省西安市友誼西路127號
- 申請?zhí)?/b>CN201410125761.X
- 申請時間2014年03月31日
- 申請公布號CN103868473A
- 申請公布時間2014年06月18日
- 分類號G01B11/25(2006.01)I;
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