摘要：本實(shí)用新型提供一種表面粗糙度的檢測(cè)裝置，包括光源單元和光電探測(cè)器，光源單元發(fā)出光照射被測(cè)表面，光電探測(cè)器探測(cè)由被測(cè)表面反射的光得到檢測(cè)信號(hào)，被測(cè)表面與檢測(cè)裝置的光軸和光電探測(cè)器位于同一平面內(nèi)，被測(cè)表面以與所述光軸成第一角度放置，光電探測(cè)器以與所述光軸成第二角度放置，以防光從光電探測(cè)器反射回被測(cè)表面。本實(shí)用新型的表面粗糙度檢測(cè)裝置，既避免了反射光對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，又減少了吸收裝置而降低成本。
- 專利類型實(shí)用新型
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- 分類號(hào)G01B11/30(2006.01)I;
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