摘要：本發(fā)明提供一種表面粗糙度的檢測裝置，包括光源單元和光電探測器，光源單元發(fā)出光照射被測表面，光電探測器探測由被測表面反射的光得到檢測信號，被測表面與檢測裝置的光軸和光電探測器位于同一平面內(nèi)，被測表面以與所述光軸成第一角度放置，光電探測器以與所述光軸成第二角度放置，以防光從光電探測器反射回被測表面。本發(fā)明的表面粗糙度檢測裝置，既避免了反射光對測量結(jié)果的影響，又減少了吸收裝置而降低成本。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;
- 發(fā)明人李粉蘭;段海峰;郝建國;許祖茂;李俊國;
- 地址100085 北京市海淀區(qū)上地西路28號1幢二層
- 申請?zhí)?/b>CN200810223654.5
- 申請時間2008年09月28日
- 申請公布號CN101363725B
- 申請公布時間2011年04月20日
- 分類號G01B11/30(2006.01)I;
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