摘要：本發(fā)明屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種雙通道電容法測(cè)量磁致伸縮的裝置及其方法，該裝置包括樣品位置及探頭位置調(diào)整機(jī)構(gòu)（1），位于樣品位置及探頭位置調(diào)整機(jī)構(gòu)（1）兩端的外加磁場(chǎng)（18），以及具有第一電氣箱通道（11）和第二電氣箱通道（12）的位移數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（2）。本發(fā)明根據(jù)平行板電容原理，在外加磁場(chǎng)下，通過(guò)測(cè)量?jī)山M樣品（14）所形成的可動(dòng)的樣品電極與探頭電極（8-1，8-2）所形成的固定電極之間的電容變化，間接測(cè)量樣品的伸長(zhǎng)或縮短量，完成磁致伸縮測(cè)量并通過(guò)雙通道顯示。本發(fā)明的雙通道電容法測(cè)量磁致伸縮的裝置及其方法具有結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，測(cè)量精度高，可靠性強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn)。
- 專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
- 申請(qǐng)人安泰科技股份有限公司;
- 發(fā)明人郭金花;馮碩;倪曉俊;盧志超;李德仁;薄希輝;周少雄;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)學(xué)院南路76號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201210174911.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2012年05月30日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102707248B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年08月13日
- 分類(lèi)號(hào)G01R33/18(2006.01)I;
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