摘要：本發(fā)明屬于測量技術領域，具體涉及一種雙通道電容法測量磁致伸縮的裝置及其方法，該裝置包括樣品位置及探頭位置調(diào)整機構（1），位于樣品位置及探頭位置調(diào)整機構（1）兩端的外加磁場（18），以及具有第一電氣箱通道（11）和第二電氣箱通道（12）的位移數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（2）。本發(fā)明根據(jù)平行板電容原理，在外加磁場下，通過測量兩組樣品（14）所形成的可動的樣品電極與探頭電極（8-1，8-2）所形成的固定電極之間的電容變化，間接測量樣品的伸長或縮短量，完成磁致伸縮測量并通過雙通道顯示。本發(fā)明的雙通道電容法測量磁致伸縮的裝置及其方法具有結構設計簡單，測量精度高，可靠性強的優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發(fā)明人郭金花;馮碩;倪曉俊;盧志超;李德仁;薄希輝;周少雄;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)學院南路76號
- 申請?zhí)?/b>CN201210174911.7
- 申請時間2012年05月30日
- 申請公布號CN102707248A
- 申請公布時間2012年10月03日
- 分類號G01R33/18(2006.01)I;
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