所有產(chǎn)品
產(chǎn)品總數(shù)：8
聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)-ZEM-d
簡介:日本ADVANCERIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測量系統(tǒng)ZEM系列在銷售量超過300臺，廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽，成為熱電材料領(lǐng)域應用廣泛的測試設(shè)備。2019年，在此前的成功基礎(chǔ)上，ADVANCERIKO公司推出了專門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設(shè)備ZEM-d。與之前ZEM系列產(chǎn)品（ZEM-3/ZE...
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納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)
簡介:納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)-TCN-2ω—薄膜材料的熱導率評價將變得為簡便日本AdvanceRiko公司推出的納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導率的商用系統(tǒng)。與其他方法相比，樣品制備和測量為簡單。納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)特點：1.在納米尺度衡量薄膜的熱導率開發(fā)...
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激光閃光法熱常數(shù)測量系統(tǒng)
簡介:TC-1200RH采用符合JIS/ISO標準的激光閃光法測定材料的三個重要熱物理常數(shù)：熱導率（導熱系數(shù)）、熱擴散系數(shù)及比熱容。使用紅外金面爐替代傳統(tǒng)電阻爐加熱，大大縮短測量時間?？蓱糜跓犭姴牧系难芯颗c開發(fā)，及其他材料的熱物理性能評價。僅需1/4的時間（與使用電阻爐的傳統(tǒng)型號相比...
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大氣環(huán)境下熱電材料性能評估系統(tǒng)
簡介:大氣環(huán)境下熱電材料性能評估系統(tǒng)F-PEM產(chǎn)品介紹：大氣環(huán)境下熱電材料性能評估系統(tǒng)F-PEM可以在大氣環(huán)境下，對負荷溫差的熱電材料產(chǎn)生的發(fā)電量和熱流量進行測量，熱電轉(zhuǎn)換效率可以通過大發(fā)電量和熱流量計算出。同時，該系統(tǒng)還可以長時間運行熱循環(huán)測試，運用于熱電新材料的開發(fā)，以及...
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小型熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)-Mini-PEM
簡介:產(chǎn)品介紹：小型熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)Mini-PEM可測量熱電材料的產(chǎn)生的電量及熱電轉(zhuǎn)換效率η。熱電轉(zhuǎn)換效率η可以通過產(chǎn)生的電量和熱流來獲得(電量是通過四探針法獲得;熱流是通過熱流計獲得)。應用方向：+發(fā)電量和熱流量的測量;+計算熱電材料模塊的熱電轉(zhuǎn)換效率;+測量單一熱電材料發(fā)...
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熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)
簡介:熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)PEM產(chǎn)品介紹：熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)PEM被設(shè)計用來測定熱電轉(zhuǎn)換效率η。通過對熱電材料模塊提供大溫差500℃，可得到一維熱流量Q和大發(fā)電功率P，從而測定熱電轉(zhuǎn)換效率η。產(chǎn)品特點：+通過高精度的紅外線金面反射爐可完成快速性能評估和耐力測試;+上下表面能提供...
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塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)
簡介:塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)ZEM——定量測量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻產(chǎn)品介紹：塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來測量。產(chǎn)品特點：■擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器;■測...
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TEGeta 多功能熱電材料測量系統(tǒng)
簡介:TEGeta多功能熱電材料測量系統(tǒng)TEGeta—熱電材料研究利器：TEGeta是德國PANCO公司新研制的一款高精度多功能的熱電性能測量設(shè)備。它的工作原理是通過熱端和冷端在材料中形成溫度梯度，然后高精度測量樣品中的熱流、電流和熱電勢，通過不同外阻的匹配測量出材料的大熱電功率，是熱電材...
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