箱體結(jié)構(gòu)：
門：箱門采用2mm不銹鋼板材，門上帶有10mm厚防爆玻璃，并帶有不銹鋼防護網(wǎng)，易拆卸。結(jié)構(gòu)設(shè)計為單開門形式，箱門采用彈性門扣，外加密封條，密封性能好。在箱內(nèi)壓力過大時，可沖開箱門，達(dá)到泄壓目的。箱門采用全不銹鋼材質(zhì)合頁。
外殼：材料為2mm厚不銹鋼，能在潮濕環(huán)境下長期使用且保持外表美觀，符合現(xiàn)場管理的要求。
內(nèi)膽：箱體內(nèi)壁采用2mm厚不銹鋼板加工，不但耐腐蝕性好，而且強度高、剛度好，具有較高的抗沖擊性能，工作室內(nèi)壁光滑平整，便于清潔。保溫材料采用帶孔石棉板，可絕緣阻燃。保溫層厚度120mm。
每層底板可承重30kg。
框架：由50mm*50mm不銹鋼方鋼焊接而成。底部滾輪機構(gòu)采用直徑為75mm尼龍帶剎車裝置，（2定向，2萬向，4個調(diào)節(jié)平衡裝置）。
用于電子產(chǎn)品的高溫試驗、低溫試驗、溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗。通過試驗考察電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的工作性能和技術(shù)狀態(tài)。高低溫交變濕熱試驗箱由溫濕度試驗箱、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng)、電子觸摸屏、通訊接口等部分組成。設(shè)備具有超壓、超溫、的報警保護、故障診斷、試驗控制、數(shù)據(jù)通訊、記錄存儲、進程顯示等功能。
外配控制計算機可通過專用軟件直接顯示和打印試驗數(shù)據(jù)／曲線，并將試驗所記錄的數(shù)據(jù)進行存儲；配有遠(yuǎn)程USB接口。
試驗試件為通氣油油管，相關(guān)接口可能存在漏油危險，在高溫狀態(tài)下存在安全安隱患，簽于此設(shè)備配有兩套安全裝置，
1）汽油濃度探測儀,當(dāng)汽油探測儀探測到濃度超標(biāo)，自動開啟箱體頂部排風(fēng)系統(tǒng)，并發(fā)出報警。
2）煙霧報警器，當(dāng)發(fā)生泄漏氣體燃燒，煙霧報警發(fā)出警報，同時打開箱體后部二氧化碳滅火裝置
技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍：0℃～150℃
2.溫度均勻度：≤ 2℃ （空載時）
3.溫度波動度：±0.5℃ （空載時）
4.溫度偏差：≤±2℃
5.升降溫速率：0.7℃～1.0℃/min （空載時）
6.時間設(shè)定范圍：0～999 小時
7.預(yù)裝容量：4KW
8.工作室尺寸：400*400*500㎜
9.外型尺寸：650*1150*1560㎜
溫度范圍：-20,-40,-60,-70,-80+100(150)
溫度波動度：±0.5
溫度均勻度: ±2.0
升溫速率：12/min
降溫速率：1/min
濕度范圍：3098 R.H（溫度在2580時）（可設(shè)定恒濕）
濕度波動度：±2
電池防爆試驗箱：
隔爆型“b”防爆形式，是指隔爆外殼內(nèi)放入可能產(chǎn)生火花，電弧和危險溫度的零部件，設(shè)備內(nèi)部空間與周圍的環(huán)境通過隔爆外殼分離開來。
本安型‘i’防爆形式是在設(shè)備內(nèi)部的所有電路都是由在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件下，產(chǎn)生的任何電火花或任何熱效應(yīng)均不能點燃規(guī)定的爆炸氣體環(huán)境的本質(zhì)安全電路。
正壓型‘P’防爆形式，是通過保持設(shè)備外殼內(nèi)部保護氣體的壓力壓力高于周圍爆炸性環(huán)境壓力，以達(dá)到安全的目的。
增安型‘e’防爆形式是指采取一些附加措施使正常運行條件下不會產(chǎn)生電弧，火花的電氣設(shè)備更加安全。
沖砂型‘q’防爆形式是一種在外殼內(nèi)充填沙粒或其他規(guī)定特性的粉末材料，使之在規(guī)定的使用條件下，殼內(nèi)產(chǎn)生的電弧或高溫均不能點燃周圍爆炸性氣體環(huán)境的電氣設(shè)備保護型式。
澆封型‘m’防爆型式是將可能產(chǎn)生引爆引起爆炸性混合物爆炸的火花，電弧或危險溫度部分的電氣部件，澆封在澆封擠（復(fù)合物）中，使它不能點燃周圍爆炸性混合物。
油浸型“o”防爆型式是將整個設(shè)備或設(shè)備的部件浸在油內(nèi)（保護液），使之不能點燃面以上或外殼外面的爆炸性氣體環(huán)境。
粉塵防爆型電氣設(shè)備是采用限制外殼溫度和采用‘塵密’或‘防塵’外殼來限制粉塵進入，以防止可燃性粉塵點燃
?。ǚ辣停﹫?zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.
GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.
GB/ T 2421-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則.
GB/ T 2423.21- 1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:高/低氣壓試驗方法 .
GB/ T 2423.25- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法 .
GB/ T 2423.26- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法 .
GB/T2423.3-89電工電子產(chǎn)品試驗規(guī)程，恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-89交變濕熱試驗方法
GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗.
GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.
防爆等級：Exd BT4
GJB/150A-2009.實驗室環(huán)境試驗方法第1部分
