SPI（Sediment Profile Imaging）是為科學(xué)界所廣泛認(rèn)可的環(huán)境影響評(píng)估的檢測(cè)技術(shù)。
SPI-Scan沉積物剖面成像儀用于深度在30米范圍內(nèi)的淺海、湖泊和松軟的河口等。研究人員可利用該設(shè)備探究沉積物和水的分界面或檢測(cè)有機(jī)物和沉積物之間的相互作用。圖像的形成跟水的可見度和光線無關(guān)。
使用時(shí)成像儀掃描在沉積物中挖掘的洞壁，返回軟底區(qū)域和水交界處的垂直剖面圖。圖片尺寸為210*280 mm，分辨率范圍為75～600 DPI。
SPI研究范圍：
沉積物結(jié)構(gòu)/質(zhì)地，小規(guī)模海底底質(zhì)研究
明顯的氧化還原反應(yīng)深度和氣泡
沉積物和生物擾動(dòng)
泄露殘留和表面沉積
