摘要：1．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：探針臺（PT-501A）。2．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于半導(dǎo)體GPP芯片的測試,適用于生產(chǎn)此類產(chǎn)品的晶圓測試生產(chǎn)線或代工測試廠。3．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于產(chǎn)品形狀。4．最能表明本外觀設(shè)計設(shè)計要點的圖片或照片：主視圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請人深圳市矽電半導(dǎo)體設(shè)備有限公司;
- 發(fā)明人劉振輝;楊波;
- 地址518000 廣東省深圳市龍崗中心城清林西路龍城工業(yè)園E棟創(chuàng)業(yè)大廈二層
- 申請?zhí)?/b>CN201430285155.5
- 申請時間2014年08月12日
- 申請公布號CN303133126S
- 申請公布時間2015年03月18日
- 分類號10-05(9);
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