摘要：本外觀設(shè)計(jì)用于測量兒童的智商智力。
- 專利類型外觀專利
- 申請人北京鴻慈童康科技發(fā)展中心;
- 發(fā)明人陳飛揚(yáng);
- 地址100025 北京市朝陽區(qū)東四環(huán)中路遠(yuǎn)洋國際中心D座2603室
- 申請?zhí)?/b>CN200930286671.9
- 申請時間2009年12月25日
- 申請公布號CN301330594S
- 申請公布時間2010年08月25日
- 分類號24-01;
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