摘要：本實(shí)用新型公開了一種微量樣品光度檢測裝置。該微量樣品光度檢測裝置包括有光源、單色儀和基座，該基座上開有通孔，該通孔的下方固定安裝底座，下探針插裝在該底座上；所述基座上設(shè)置有鉸鏈，該鉸鏈上以可以活動的方式安裝有活動臂，上探針固定安裝在該活動臂上，其位置與所述下探針的位置相對應(yīng)；所述下探針通過光纖與所述光源或所述單色儀連接，所述上探針對應(yīng)于上述下探針通過所述光纖與上述單色儀或上述光源連接。本實(shí)用新型操作簡單、清洗方便，并且所需被檢測的樣品用量微小，特別適用于對珍貴或不易采集制作的樣品進(jìn)行微量分析。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請人北京普析通用儀器有限責(zé)任公司;
- 發(fā)明人孫宏偉;馬放均;
- 地址100083北京市海淀區(qū)清華東路17號79信箱
- 申請?zhí)?/b>CN03245599.2
- 申請時(shí)間2003年04月22日
- 申請公布號CN2612944Y
- 申請公布時(shí)間2004年04月21日
- 分類號G01N21/01;G01N21/25;
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