摘要：本實用新型涉及一種光學(xué)材料折射率曲線測量裝置。包括用于測量待測光學(xué)材料不同波長的群折射率值的寬帶光相干干涉系統(tǒng)及用于測量該待測光學(xué)材料在一確定的激光波長下對應(yīng)的折射率值的激光雙縫干涉系統(tǒng)，結(jié)合待測光學(xué)材料不同波長的群折射率值及其在確定的激光波長下對應(yīng)的折射率值，即可得到待測光學(xué)材料在整個波長范圍的折射率曲線。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，簡化了傳統(tǒng)復(fù)雜的光學(xué)材料折射率曲線測量操作步驟。
- 專利類型實用新型
- 申請人福州大學(xué);
- 發(fā)明人鐘舜聰;張秋坤;鐘劍鋒;
- 地址350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮(zhèn)大學(xué)城學(xué)園路2號福州大學(xué)新區(qū)
- 申請?zhí)?/b>CN201520686530.6
- 申請時間2015年09月08日
- 申請公布號CN205049478U
- 申請公布時間2016年02月24日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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