摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種檢測(cè)電路板的方法，它是通過(guò)微處理器記錄合格電路板上電測(cè)試等待時(shí)間之內(nèi)各測(cè)試點(diǎn)每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時(shí)的時(shí)間和狀態(tài)變化次數(shù)，掉電測(cè)試等待時(shí)間之內(nèi)各測(cè)試點(diǎn)每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時(shí)的時(shí)間和狀態(tài)變化次數(shù)；再與通過(guò)微處理器記錄待檢測(cè)電路板上所述上電測(cè)試等待時(shí)間之內(nèi)各測(cè)試點(diǎn)每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時(shí)的時(shí)間和狀態(tài)變化次數(shù)，所述掉電測(cè)試等待時(shí)間之內(nèi)各測(cè)試點(diǎn)每一次電位的變化后狀態(tài)、變化時(shí)的時(shí)間和狀態(tài)變化次數(shù)；并將兩者檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，即可判斷所檢測(cè)的電路板是否合格。采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明避免了出現(xiàn)主觀產(chǎn)生的誤判現(xiàn)象。根據(jù)本發(fā)明制作的檢測(cè)裝置成本低廉，檢測(cè)效率高。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人深圳創(chuàng)維—RGB電子有限公司;
- 發(fā)明人吳偉;楊軍治;卓成鈺;
- 地址518106廣東省深圳市八卦嶺工業(yè)區(qū)425棟
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200310110921.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2003年11月07日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN1614436A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2005年05月11日
- 分類號(hào)G01R31/28;G01R31/317;
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