摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種在粒度分析儀中降低隨機(jī)系統(tǒng)噪聲的方法，包括如下步驟：S11、獲取引入系統(tǒng)噪聲的光源功率譜密度分布；S22、基于所獲取的光源功率譜密度分布，設(shè)置插值點(diǎn)頻率及每一插值點(diǎn)頻率所對(duì)應(yīng)的幅值權(quán)重；S13、設(shè)置仿真參數(shù)，對(duì)每一插值點(diǎn)頻率分別計(jì)算所對(duì)應(yīng)的MIE矩陣，并將所獲得的每一MIE矩陣疊加形成總的MIE矩陣，以用于和實(shí)測(cè)的光信號(hào)陣列進(jìn)行擬合。還公開(kāi)了一種在粒度分析儀中降低隨機(jī)系統(tǒng)噪聲的裝置。將系統(tǒng)噪聲考慮進(jìn)入仿真模型的算法處理和數(shù)值計(jì)算過(guò)程中，可進(jìn)一步提升來(lái)自粉末樣品散射光的空間分辨率和靈敏度，降低系統(tǒng)噪聲，據(jù)此拓展激光粒度儀測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量范圍和精度，以進(jìn)一步滿足客戶對(duì)實(shí)驗(yàn)或生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量控制的需求。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人珠海歐美克儀器有限公司;
- 發(fā)明人王鑫;蔡斌;
- 地址519085 廣東省珠海市高新區(qū)唐家灣鎮(zhèn)科技三路33號(hào)廠房第二層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201610015492.0
- 申請(qǐng)時(shí)間2016年01月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105675455A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年06月15日
- 分類號(hào)G01N15/02(2006.01)I;
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