摘要：本發(fā)明公開一種X光檢測機以及運用X光檢測機的檢測方法，包括上料區(qū)、檢測區(qū)、分揀區(qū)通過所述傳送機構(gòu)依次連接，上料區(qū)的固持裝置將檢測產(chǎn)品固定在傳送機構(gòu)上，檢測區(qū)的X光檢測裝置對檢測產(chǎn)品進行檢測，判定裝置判斷檢測產(chǎn)品是否滿足質(zhì)量要求，分揀區(qū)的分揀裝置根據(jù)判定裝置的判定結(jié)果，當(dāng)出現(xiàn)NG產(chǎn)品時，分揀裝置將NG檢測產(chǎn)品進行分揀，使不合格的產(chǎn)品不會進入下一工序，提高工作效率，便于大批量生產(chǎn)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人廣東正業(yè)科技股份有限公司;昆山市正業(yè)電子有限公司;
- 發(fā)明人張建文;徐地華;賀恪;桂行坦;黃林兵;彭怡;郭照虎;楊紅梅;劉世群;李叢生;梅領(lǐng)亮;屈志高;陳伯平;林小夏;
- 地址523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)科技九路2號
- 申請?zhí)?/b>CN201510267433.8
- 申請時間2015年05月22日
- 申請公布號CN104914117A
- 申請公布時間2015年09月16日
- 分類號G01N23/04(2006.01)I;B07C5/34(2006.01)I;
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