摘要：本發(fā)明公開了一種檢測碲化物半導(dǎo)體探測器內(nèi)建電場的裝置及方法，包括鹵鎢燈、980nm濾波片、透鏡、碲化物半導(dǎo)體探測器、三維平移臺(tái)、起偏器、檢偏器、物鏡和相機(jī)，所述碲化物半導(dǎo)體探測器橫放在所述三維平移臺(tái)上，所述碲化物半導(dǎo)體探測器上設(shè)有直流電壓表，所述三維控制平臺(tái)和相機(jī)均通過數(shù)據(jù)線連接有電腦，所述鹵鎢燈上設(shè)有開關(guān)。本發(fā)明可以根據(jù)相機(jī)上所接收到的光強(qiáng)與碲化物半導(dǎo)體探測器的內(nèi)建電場強(qiáng)度的平方成正比，來研究碲化物半導(dǎo)體探測器的電場分布，進(jìn)一步的得到空間電荷的分布，從而來研究碲化物半導(dǎo)體探測器內(nèi)部的缺陷。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人西北工業(yè)大學(xué);
- 發(fā)明人羅翔祥;介萬奇;查鋼強(qiáng);王濤;徐亞東;谷亞旭;席守智;張文瓏;
- 地址710072 陜西省西安市碑林區(qū)友誼西路127號
- 申請?zhí)?/b>CN201410181930.1
- 申請時(shí)間2014年05月04日
- 申請公布號CN103983579A
- 申請公布時(shí)間2014年08月13日
- 分類號G01N21/23(2006.01)I;
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