摘要：本發(fā)明提供了一種物質(zhì)分析系統(tǒng)，包括：光源，發(fā)出參比光、第一測量光和第二測量光；容器，用于在測量液體時盛裝待測液體；第一反射裝置，用于分別反射參比光和第一測量光，第一反射裝置設(shè)置在待測固體的一側(cè)；第一測量光在被第一反射裝置反射前或反射后穿過所述容器；移動裝置，用于在測量待測固體時移開所述第一反射裝置，而使第二測量光照射到待測固體上；探測器，用于分別接收參比光、穿過待測液體后的第一測量光和被待測固體反射后的第二測量光，并分別轉(zhuǎn)換為參比信號、第一測量信號和第二測量信號；分析單元，用于處理探測器傳送來的信號，從而獲知待測液體和待測固體的參數(shù)。本發(fā)明具有適用性好、結(jié)構(gòu)簡單、可靠性高、成本低等優(yōu)點(diǎn)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;北京聚光世達(dá)科技有限公司;北京英賢儀器有限公司;
- 發(fā)明人葉華俊;楊鐵軍;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201010563241.9
- 申請時間2010年11月29日
- 申請公布號CN102095691A
- 申請公布時間2011年06月15日
- 分類號G01N21/25(2006.01)I;
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