摘要：本發(fā)明公開了一種非電學(xué)量測定系統(tǒng)及方法，用于測定非電學(xué)量；本發(fā)明所述的系統(tǒng)及方法采用高階非線性特征方程描述被檢測非電學(xué)量與頻率信號值和溫度信號值之間的關(guān)系，同時，所述高階非線性方程的系數(shù)使用高階非線性擬合算法，通過大量的數(shù)據(jù)擬合算出，保證了檢測的精度，避免了由于采用分段線性的方法而導(dǎo)致的檢測精度不高的情況。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京華控技術(shù)有限責任公司;
- 發(fā)明人常先明;徐昭敏;陳小楓;耿東漢;
- 地址100085 北京市海淀區(qū)上地東路1號華控大廈1層
- 申請?zhí)?/b>CN201010243096.6
- 申請時間2010年08月02日
- 申請公布號CN101936746A
- 申請公布時間2011年01月05日
- 分類號G01D3/028(2006.01)I;
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