摘要：本發(fā)明提供一種使用X射線熒光光譜儀測量鍍層的裝置，包括高壓發(fā)生器、X射線管、準(zhǔn)直器、鏡片、攝像頭、探測器、多道板、計(jì)算機(jī)，高壓發(fā)生器連接X射線管，給X射線管提供高電壓，X射線管連接準(zhǔn)直器，由探測器探測樣品反射的X射線，將電信號轉(zhuǎn)換為電脈沖，由放大器MCA放大，放大后的信號傳送到多道板，由多道板形成通訊信號傳送到計(jì)算機(jī)處理。方法包括(1)產(chǎn)生高壓；(2)在X射線管中，電子的動能主要轉(zhuǎn)化為初級輻射；(3)采用不同大小和形狀的準(zhǔn)直器；(4)探測器窗口接收X熒光；(5)采用充滿氙氣的比例計(jì)數(shù)器；(6)放大器的信號傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中；(7)數(shù)據(jù)和樣品的圖像由顯示器顯示。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海優(yōu)特化工有限公司;
- 發(fā)明人宋涵華;
- 地址201822 上海市嘉定區(qū)迎園路400號
- 申請?zhí)?/b>CN200910051303.5
- 申請時(shí)間2009年05月15日
- 申請公布號CN101887038A
- 申請公布時(shí)間2010年11月17日
- 分類號G01N23/223(2006.01)I;
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